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电磁场高速自动扫描技术在高速PCB设计中的应用

Updated:2014-11-15 17:11:18Hits:4304

当然,现在有很多高速PCB分析和仿真设计工具,可以帮助工程师解决一些问题,可是目前在器件模型上还存在很多限制,例如能解决信号完整性(SI)仿真的IBIS模型就有很多器件没有模型或者模型不准确。要精确仿真EMC问题,就必须用SPICE模型,但目前几乎所有的ASIC都不能提供SPICE模型,而如果没有SPICE模型,EMC仿真是无法把器件本身的辐射考虑在内的(器件的辐射比传输线的辐射大得多)。另外,仿真工具往往要在精度和仿真时间上进行折中,精度相对较高的,需要的计算时间很长,而仿真速度快的工具,其精度又很低。因此用这些工具进行仿真,不能完全解决高速PCB设计中的相互干扰问题。

我们知道,在多层PCB中高频信号的回流路径应该在该信号线层临近的参考地平面(电源层或者地层)上,这样的回流和阻抗最小,但是实际的地层或电源层中会有分割和镂空,从而改变回流路径,导致回流面积变大,引起电磁辐射和地弹噪声。如果工程师能清楚电流路径的话,就能避免大的回流路径,从而有效控制电磁辐射。但信号回流路径由信号线布线、PCB电源和地分布结构以及电源供电点、去耦电容和器件放置位置和数量等多种因素所决定,故而对复杂系统的回流路径从理论上进行判定非常困难。

所以在设计阶段排除辐射噪声问题非常关键。我们用示波器能看到信号的波形,从而可帮助解决信号完整性问题,那么有没有设备能看到辐射的“图形”以及电路板上的回流呢?
电磁场高速扫描测量技术在各种电磁辐射测量方法中,有一种近场扫描测量方法能解决这个问题,该方法基于这样的原理设计,即电磁辐射是被测设备(DUT)上的高频电流回路形成的。如加拿大EMSCAN公司的电磁辐射扫描系统Emscan就是根据这个原理制成的,它采用H场阵列探头(有32×40=1280个探头)来探测DUT上的电流,在测量期间,DUT直接放在扫描器的上面。这些探头可以检测由于高频电流发生变化而引起的电磁场的变化,系统可提供RF电流在PCB上空间分布的视觉图像Emscan电磁兼容扫描系统已经在通信、汽车、办公电器以及消费电子等工业领域得到广泛应用,通过该系统提供的电流密度图,工程师在进行电磁兼容性标准测试前就能发现有EMI问题的区域并采取相应措施。

近场扫描原理Emscan的测量主要在活性近场区域(r<<λ/2π)进行,DUT上发出的辐射信
号大部分被耦合到磁场探头上,少量能量扩散到自由空间。磁场探头耦合了近H场的磁通线以及PCB上的电流,另外它也获取一些近E场的微量成分。
大电流低电压电流源主要与磁场相关,而高电压小电流电压源则主要与电场相关,在PCB上
,纯电场或者纯磁场都是很少见的。RF和微波电路中,电路的输入阻抗以及连接用的微带或者微带线,其阻抗都被设计为50欧姆,这种低阻抗设计使得这些元器件产生大电流和低电压变化,此外数字电路的趋势也是使用更低电压差的逻辑器件,同时活性近场区域内的磁场波阻抗远小于电场波阻抗。综合这些因素,大部分PCB活性近场区域能量都包含在近磁场中,因此Emscan扫描系统采用的磁场环适合于这些PCB的近场诊断。

所有的环是一样的,然而它们在反馈网络中的位置不同,因此反馈网络可感应各个环的响应,每个环相对参考源的响应都被测量出来并考虑为滤波转移函数。为了保证测量的线性度,Emscan测量的是这个转移函数的倒数。

由于采用了阵列天线和电子自动切换天线技术,因此测量速度大大加快,比手工单探头测量方案快几千倍,也比自动单探头测量方案快几百倍,能够快速有效判断电路修改前后的效果快速扫描技术及其先进幅度保持扫描技术和同步扫描技术使该系统能有效捕捉瞬态事件,同时它采用能提升频谱分析仪测量精度的技术,提高了测量的精确性和可重复性。评估PCB近场辐射干扰的测量方法。

PCB辐射干扰情况的检查可分几步进行。首先确定需要扫描的区域,然后选择能充分采样扫描区域的探头(栅格7.5mm),在100kHz~3GHz的频率范围内进行频谱扫描,并存储每个频
率点的最大电平。注意,比较大的频率点可利用空间扫描在扫描区域内作进一步检查,这样可以定位干扰源以及关键电路路径。被测板必须尽可能靠近扫描器板,因为随着距离增加,接收信噪比会降低,而且还会有“分离”效应。实际测量中,这个距离应该小于1.5cm。我们可以看到,对元件面的测量有时候可能会因为元器件的高度而使测量出现问题,因此元器件的高度必须要考虑,以对测量的电压电平进行校正。

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